Prise en main d'un AFM : Initiation aux différents modes de fonctionnement de l'équipement
Observation d'échantillons de différentes tailles, et analyse de la surface d'un matériau semi-conducteur
Initiation à la mesure HF
Initiation à la mesure sur plaque (on wafer) de dispositifs HF
Caractérisation d'un amplificateur linéaire HF
Mesure de bruit
Caractérisation de dispositifs non-linéaires HF
Caractérisation d'une chaîne de radiocommunications GSM
Réalisation et caractérisation d'un système de télécomunication par faisceau hertzien à la fréquence de 7,1 GHz